一、江蘇35*175塑料電纜拖鏈平面度誤差測量的要求

   機床工(gong)作(zuo)臺平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)度(du)誤(wu)差(cha)(cha)(cha)的(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)方(fang)法沿用(yong)(yong)“兩(liang)點(dian)法”，即利用(yong)(yong)平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)行(xing)(xing)平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)尺(chi)、千分(fen)表、等高墊塊、框式水平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)儀等，將沿工(gong)作(zuo)臺面(mian)(mian)某些(xie)直線部位進(jin)行(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，理解為(wei)任一(yi)截面(mian)(mian)上(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)zui大(da)直線度(du)誤(wu)差(cha)(cha)(cha)。而它與(yu)形位公(gong)差(cha)(cha)(cha)國(guo)標中平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)度(du)定(ding)(ding)(ding)義(yi)規(gui)定(ding)(ding)(ding)不符，目前JB2670—82《金(jin)屬切(qie)削機床檢驗通(tong)則(ze)(ze)》中指出，對(dui)平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)度(du)誤(wu)差(cha)(cha)(cha)的(de)(de)(de)(de)檢查(cha)測(ce)(ce)量(liang)(liang)均為(wei)按包容實際表面(mian)(mian)且距(ju)(ju)離為(wei)zui小(xiao)的(de)(de)(de)(de)兩(liang)平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)行(xing)(xing)平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)間的(de)(de)(de)(de)距(ju)(ju)離。由此定(ding)(ding)(ding)義(yi)可以看出，作(zuo)為(wei)評定(ding)(ding)(ding)基準的(de)(de)(de)(de)包容平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)，其位置也需要根據zui小(xiao)條件原則(ze)(ze)來確(que)定(ding)(ding)(ding)。所以必須(xu)首(shou)先全面(mian)(mian)掌握被測(ce)(ce)表面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)(cha)(cha)情(qing)況，然(ran)后才能(neng)按一(yi)定(ding)(ding)(ding)準則(ze)(ze)確(que)定(ding)(ding)(ding)評定(ding)(ding)(ding)基準。這樣就(jiu)決定(ding)(ding)(ding)了測(ce)(ce)量(liang)(liang)必須(xu)要分(fen)兩(liang)個(ge)步驟，即先測(ce)(ce)出實際表面(mian)(mian)上(shang)(shang)若干點(dian)相對(dui)于任意一(yi)個(ge)理想平(ping)(ping)(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)（測(ce)(ce)量(liang)(liang)基準）的(de)(de)(de)(de)高度(du)，然(ran)后通(tong)過基準轉換等方(fang)法，才能(neng)求出符合定(ding)(ding)(ding)義(yi)的(de)(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)(cha)(cha)值(zhi)。

二、用指示器(qi)測量平面度誤差時應如(ru)何操作和評定?

   用指示器測量平面度誤差，將被測江蘇35*175塑料電纜拖鏈置于平板(ban)(ban)(ban)上，平板(ban)(ban)(ban)的(de)(de)(de)工作面(mian)為測(ce)(ce)(ce)(ce)量基準。測(ce)(ce)(ce)(ce)量時，通常(chang)先調整被測(ce)(ce)(ce)(ce)實際表面(mian)上相距zui遠的(de)(de)(de)三點(dian)(dian)與(yu)(yu)平板(ban)(ban)(ban)等(deng)高(gao)（調平），因此由指示(shi)器測(ce)(ce)(ce)(ce)得的(de)(de)(de)zui大(da)讀(du)(du)(du)數(shu)(shu)(shu)(shu)與(yu)(yu)zui小讀(du)(du)(du)數(shu)(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)代數(shu)(shu)(shu)(shu)差(cha)就是按三點(dian)(dian)法(fa)評(ping)(ping)定的(de)(de)(de)平面(mian)度(du)誤差(cha)值。也可(ke)以調整被測(ce)(ce)(ce)(ce)實際表面(mian)上一條對角(jiao)(jiao)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)兩端(duan)點(dian)(dian)與(yu)(yu)平板(ban)(ban)(ban)等(deng)高(gao)，再調整另一條對角(jiao)(jiao)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)兩端(duan)點(dian)(dian)與(yu)(yu)平板(ban)(ban)(ban)等(deng)高(gao)，于是由指示(shi)器測(ce)(ce)(ce)(ce)得的(de)(de)(de)zui大(da)讀(du)(du)(du)數(shu)(shu)(shu)(shu)與(yu)(yu)zui小讀(du)(du)(du)數(shu)(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)代數(shu)(shu)(shu)(shu)差(cha)就是按對角(jiao)(jiao)線(xian)(xian)(xian)法(fa)評(ping)(ping)定的(de)(de)(de)誤差(cha)值。但這樣(yang)調平比較困難，可(ke)按一定的(de)(de)(de)布(bu)線(xian)(xian)(xian)測(ce)(ce)(ce)(ce)量被測(ce)(ce)(ce)(ce)表面(mian)，同時記錄讀(du)(du)(du)數(shu)(shu)(shu)(shu)。一般可(ke)用zui大(da)與(yu)(yu)zui小讀(du)(du)(du)數(shu)(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)代數(shu)(shu)(shu)(shu)差(cha)作為誤差(cha)值。必要(yao)時，可(ke)按zui小條件把各測(ce)(ce)(ce)(ce)點(dian)(dian)的(de)(de)(de)讀(du)(du)(du)數(shu)(shu)(shu)(shu)進行數(shu)(shu)(shu)(shu)據的(de)(de)(de)處理，求解誤差(cha)值。

三、用(yong)水平(ping)儀測(ce)量平(ping)面度(du)誤差時應(ying)注意什么問題？

    用水平儀測量平面度誤差是以自然水平面作為測量基準，測量時應先把被預測實際表面調整到大致水平。然后把水平儀安放在橋板上，再把橋板置于被測表面上，按一定的布線逐點測量被測表面，同時記錄各測點的讀數（格數），再將格數換算成線值。根據測得的讀數（線值），通過數據處理，即可獲得平面度誤差。
此方(fang)法可用來測(ce)量(liang)大平(ping)面的平(ping)面度。

四、用自準(zhun)直(zhi)儀測量平面(mian)度誤差時應注意什么問題?

   用誤差時，是將自準直儀置于被測零件之外的基座上，將反射鏡安放在橋板上，并將橋板置于被測表面上。測量時，應先把自準直儀與被測表面調整到大致平行。然后用測量直線度誤差的方法，按米字布線，先測出對角線上各測點的讀數，再測出另一條對角線上各測點和其余截面上各測點的讀數，并將這些讀數換算成線值。根據測得的讀數（線值），利用兩條對角線的交點來確定符合對角線法則的理想平面，再按此理想平面求解平面度誤差值。必要時再進一步按zui小條件求解誤差值。
此方法可用不測量(liang)大平面的平面度(du)。

五(wu)、用平(ping)晶測量平(ping)面度誤差時應(ying)如何評(ping)定(ding)？

    應(ying)用光學(xue)平(ping)晶(jing)(jing)測(ce)量(liang)小平(ping)面，測(ce)量(liang)時將平(ping)晶(jing)(jing)貼于被(bei)測(ce)表(biao)(biao)面上，若被(bei)測(ce)表(biao)(biao)面內凹或(huo)外凸，就會出現環(huan)形(xing)干涉帶(dai)(dai)，根據環(huan)形(xing)干涉帶(dai)(dai)數與(yu)光波的半波長的乘(cheng)積來(lai)(lai)表(biao)(biao)示平(ping)面度(du)(du)誤(wu)差。如果(guo)干涉條紋不封閉(bi)，可(ke)使(shi)光學(xue)平(ping)晶(jing)(jing)與(yu)被(bei)測(ce)表(biao)(biao)面間(jian)略微傾斜一個角度(du)(du)，使(shi)兩者之間(jian)形(xing)成一空氣(qi)楔。這種按干涉帶(dai)(dai)的彎曲度(du)(du)與(yu)相鄰兩干涉帶(dai)(dai)之間(jian)的比(bi)值(zhi)，再乘(cheng)以半波長即得誤(wu)差值(zhi)。不過，按此法(fa)評定的誤(wu)差實際上是以直(zhi)線度(du)(du)誤(wu)差代替(ti)了平(ping)面度(du)(du)誤(wu)差。過去用平(ping)晶(jing)(jing)只能測(ce)小平(ping)面。近年(nian)來(lai)(lai)有了平(ping)晶(jing)(jing)干涉儀(yi)，應(ying)用這種儀(yi)器也(ye)可(ke)以利用平(ping)晶(jing)(jing)干涉法(fa)來(lai)(lai)測(ce)量(liang)較大的平(ping)面。